Lutetiumoxyorthosilicat

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Kristallstruktur
Kristallstruktur von Lutetiumoxyorthosilicat
_ Lu3+ 0 _ Si4+0 _ O2−
Allgemeines
Name Lutetiumoxyorthosilicat
Andere Namen

LSO

Verhältnisformel Lu2SiO5
Kurzbeschreibung

trigonale, farblose Kristalle[1]

Externe Identifikatoren/Datenbanken
CAS-Nummer 12168-86-4 CAS-Nummer formal falsch all= 1= opt= 2= KeinCASLink= cat= Wikipedia:Vorlagenfehler/Vorlage:CASRN template= Vorlage:CASRN

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EG-Nummer 235-337-4
ECHA-InfoCard 100.032.113
Wikidata [[:d:{{#invoke:Wikidata|pageId}}|{{#invoke:Wikidata|pageId}}]]
Eigenschaften
Molare Masse 458,0165 g·mol−1
Aggregatzustand

fest

Dichte

7,4 g·cm−3[1]

Schmelzpunkt

2047 °C[1]

Brechungsindex

1,82[1]

Sicherheitshinweise
GHS-Gefahrstoffkennzeichnung[2]
keine GHS-Piktogramme

H- und P-Sätze H: keine H-Sätze
P: keine P-Sätze
Soweit möglich und gebräuchlich, werden SI-Einheiten verwendet. Wenn nicht anders vermerkt, gelten die angegebenen Daten bei Standardbedingungen. Brechungsindex: Na-D-Linie, 20 °C

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Lutetiumoxyorthosilicat (LSO) ist eine Silicium-Sauerstoff-Verbindung des Lutetiums.

Mit Cer dotiert eignet es sich als Szintillatormaterial für den Nachweis von Gammastrahlen. LSO wurde Anfang der 1990er-Jahre entwickelt[3] und hat seitdem bei vielen heute erhältlichen Positronen-Emissions-Tomographie-Systemen (PET) die bis dahin verwendeten Szintillatoren Bismutgermanat (BGO) und Gadoliniumorthosilicat (GSO) verdrängt.[1] Der Brechungsindex ist 1,82, der lineare Schwächungskoeffizient µ beträgt 0,87 cm−1 und die Zeitkonstante für das Abklingen einer Szintillation ist 40 ns.[4] Der u. a. von Kernladungszahl und Wirkungsquerschnitt abhängige Photoeffektanteil µr bei Photonen einer Energie von 511 keV beträgt 34 %.[5] LSO-Kristalle haben eine trigonale Kristallstruktur und eine Mohshärte von 5,8.

Die sehr kurze Zeitkonstante von 40 ns gegenüber 300 ns bei BGO ermöglicht bei der Positronen-Emissions-Tomographie kleinere Koinzidenzfenster und damit höhere Zählraten als dies bei sonst gleichem Gerätedesign möglich wäre. Der lineare Schwächungskoeffizient µ ist jedoch geringer als der von BGO (0,87 cm−1 vs. 0,96 cm−1)[5], so dass die Sensitivität für Gammaquanten etwas geringer ausfällt.

Lutetiumoxyorthosilicat kristallisiert im monoklinen Kristallsystem, Raumgruppe C2/c (Raumgruppen-Nr. 15)Vorlage:Raumgruppe/15, mit den Gitterparametern a = 14,28 Å, b = 6,640 Å, c = 10,25 Å und β = 122,2°.[6] Die Struktur enthält isolierte O2−- und SiO44−-Ionen.

Literatur

  • Guohao Ren, Laishun Qin, Huanying Li, Sheng Lu: Investigation on defects in Lu2SiO5:Ce crystals grown by Czochralski method. In: Crystal Research and Technology. Band 41, Nummer 2, S. 163–167, Februar 2006, doi:10.1002/crat.200510549

Weblinks

  • Patent US6323489: Single crystal scinitillator. Veröffentlicht am {{#invoke:Vorlage:FormatDate|Execute}}, Erfinder: Kenneth J. McClellan.{{#invoke:TemplatePar|match

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Einzelnachweise

  1. a b c d e MTI Corporation: New Scintillation Crystal Ce:Lu2SiO5 (MS Word; 289 kB).
  2. Vorlage:CL Inventory/nicht harmonisiertFür diesen Stoff liegt noch keine harmonisierte Einstufung vor. Wiedergegeben ist eine von einer Selbsteinstufung durch Inverkehrbringer abgeleitete Kennzeichnung von Dilutetium oxide silicate im Classification and Labelling Inventory der Europäischen Chemikalienagentur (ECHA)
  3. {{#invoke:Vorlage:Literatur|f}}
  4. {{#invoke:Vorlage:Literatur|f}}
  5. a b William W. Moses: {{#invoke:WLink|getEscapedTitle|Nuclear Medical Imaging Techniques and Challenges}} (Memento vom 31. Januar 2012 im Internet Archive){{#invoke:TemplatePar|check |all = url= |opt = text= wayback= webciteID= archive-is= archive-today= archiv-url= archiv-datum= ()= archiv-bot= format= original= |cat = Wikipedia:Vorlagenfehler/Vorlage:Webarchiv |errNS = 0 |template = Vorlage:Webarchiv |format = * |preview = 1 }}Vorlage:Webarchiv/Wartung/URL{{#invoke:TemplUtl|failure| Fehler bei Vorlage:Webarchiv: enWP-Wert im Parameter 'url'.|1}}. Lawrence Berkeley National Laboratory Department of Functional Imaging, 9. Februar 2005 (PDF; 9,3 MB).
  6. T. Gustafsson, M. Klintenberg, S.E. Derenzo, M.J. Weber, J. O. Thomas: Lu2SiO5 by single-crystal X-ray and neutron diffraction. In: Acta Crystallographica, C57, 2001, S. 668–669, doi:10.1107/S0108270101005352.